品牌:
SENTECH
型号:
SENDIRA(FTIR)
功能:
可测量薄厚度、折射率、消光系数等
用途范围:
薄层的振动光谱分析
产品规格:振动光谱分析、净化椭圆偏振光学器件、计算机控制测角仪等
公司所在地:重庆
产品库存:现货及定制
可供货地区:全国
椭圆振动光谱; 完全适用的FTIR; 可见光范围内不透明的覆盖层下面的层可进行测量; 在400 cm -1至6,000 cm -1 ( 1.7 µm – 25 µm )的光谱范围提供高精度和高分辨;
展开椭圆振动光谱; 完全适用的FTIR; 可见光范围内不透明的覆盖层下面的层可进行测量; 在400 cm -1至6,000 cm -1 ( 1.7 µm – 25 µm )的光谱范围提供高精度和高分辨; 收起