当前位置：品牌：
SENTECH
型号：
SENDURO ® MEMS
功能：
可进行精确的薄膜堆栈测量
用途范围：
传感器和MEMS生产中全自动计量质量控制
产品规格：薄膜堆栈测量、边缘夹持技术、软件操作
公司所在地：重庆
产品库存：现货及定制
可供货地区：全国
使用光谱反射计和椭圆光度计提供可靠且精确的薄膜堆栈测量 通过边缘抓握技术进行背面保护 精确且可重复地测量 可根据生产控制和质量控制的要求进行配置
展开使用光谱反射计和椭圆光度计提供可靠且精确的薄膜堆栈测量 通过边缘抓握技术进行背面保护 精确且可重复地测量 可根据生产控制和质量控制的要求进行配置收起
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